Spektrometry rentgenowskie XRF serii Alpha

Podręczne analizatory XRF

Lekkie, podręczne analizatory XRF idealne do szybkiego wykrywania pierwiastków chemicznych w zakresie od fosforu do uranu.

Innov-X Aplha Classic:

Spektrometr XRF serii Alpha do badania składu chemicznego i identyfikacji materiałów.
  • Lampa rentgenowska zintegrowana z detektorem i układem pomiarowym pozwala ograniczyć koszty pracy oraz przyspieszyć czas wykonywanych analiz.
  • Analiza wielu pierwiastków w krótkim czasie w trakcie jednego pomiaru.
  • Możliwość definiowania pozytywnej/negatywnej klasyfikacji wyników pomiaru.
  • Urządzenia nie wymagają żadnych zezwoleń z uwagi na promieniowanie rentgenowskie (pełne bezpieczeństwo pracy) ani nie podlegają żadnym restrykcjom transportowym
  • Ergonomiczna i lekka konstrukcja, dzięki czemu ciągła praca jest niemęcząca.
  • Zastosowanie palmtopa (PDA) jako elastycznej platformy komunikacyjnej z urządzeniem.
  • Nieniszcząca metoda badań
  • Możliwość badania stopów metali i katalizatorów w postaci wiórowej i proszkowej
  • Urządzenie bez źródeł izotopowych
  • Całkowity ciężar jedynie 1,6 kg
  • Identyfikacja (PMI) w ciągu 2 sek.
  • Analiza chemiczna w ciągu 5 - 10 sek.
  • Spektrometr nie ma oddzielnej konsoli z elektroniką.
  • Spektrometr nie wymaga rutynowej konserwacji
  • Może być wykorzystany do analiz środowiskowych (np. zawartości pierwiastków ciężkich w glebie).

Charakterystyka techniczna:

  • Zakresy badanych pierwiastków: od Tytanu (Ti, Z=22) do Plutonu (Pu, Z=94) dla zawartości pierwiastków w zakresie 10 - 100 ppm.
  • Dwa akumulatory o czasie pracy 4 godz. każdy co umożliwia całodniową praca poprzez zastosowanie 2 akumulatorów i ładowaki
  • Generator wysokiego napięcia zintegrowany z sondą
  • Detektor Silicon-PIN o rozdzielczości lepszej poniżej 230 eV
  • Komputer kieszonkowy (HP iPAQ) z możliwością łatwego wyjęcia z obudowy (urządzenie zabezpieczone przed wysunięciem z obudowy).
  • System Windows CE dla łatwej transmisji danych, transmisja poprzez port USB lub poprzez Bluetooth (możliwość drukowania na drukarce wyposażonej w Bluetooth)
  • Kolorowy ekran dotykowy TFT
  • Analiza widma
  • Analiza chemiczna i nazwa gatunku wyświetlane po analizie
  • Bazy danych definiowane przez użytkownika
  • Czujnik bezpieczeństwa zapobiegający przypadkowemu włączeniu lampy rentgenowskiej
  • Możliwy pomiar na małych i gorących elementach
  • Specjalnie zaprojektowany moduł czołowy sondy pod kątem pomiaru trudnych próbek, takich jak narożniki konstrukcji i spoiny
  • Statyw i zasilacz do pracy w warunkach laboratoryjnych (wyposażenie dodatkowe).

Wersje wyposażenia:

Wybrany analizator skalibrowany pod odpowiednią aplikację wyposażony w jedną spośród następujących kalibracji:

- P2000A Analytical Analysis Package (umożliwia analizę chemiczną stopów metalicznych: Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Hf, W, Ta, Re, Pb, Ag, Sn, Bi, & Sb) z możliwością dodatkowego modułu oprogramowania do analizy składu chemicznego katalizatorów ceramicznych i metalicznych
- P4000F FastID Analysis Package (identyfikacja materiałowa PMI)
- M4000S Soil Analysis Package (analiza 20 standardowych pierwiastków w glebie: Ti, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Hg & Pb)
- M4000F Filter Analysis Package (analiza 20 standardowych pierwiastków na filtrach: Ti, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd,Sn, Sb, Ba, Hg & Pb)
- M4000W Dust Wipe Analysis Package (analiza ołowiu w pyle/kurzu)
- M4000L Lead Paint Analysis Package (analiza farb i lakierów na bazie ołowiu)
- P6000R Materials Testing for ROHS/WEEE (analiza pod kątem kryteriów RoHS/WEEE: Cd, Pb, Hg, Cr, Br & Sb. Pozostałe pierwiastki: Ti, Ba, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Sn, Sb, As & Cl)
- P6000E Empirical (analiza nietypowych materiałów na podstawie pomiarów empirycznych).

Akcesoria standardowe:

  • Dwa akumulatory Li-Ion, ładowarka (220/230V)
  • Podręcznik użytkownika
  • Kompaktowa walizka do transportu spektrometru Alpha i akcesoriów
  • Przewód USB i przewód interfejsu szeregowego
  • Osłona chroniąca przed deszczem i kurzem
  • Klips kalibracyjny do samodzielnej standaryzacji urządzenia przed rozpoczęciem pracy

 

DODATKOWE MATERIAŁY INFORMACYJNE

Broszura na temat badań spektrometrami XRF stopów metali
Broszura na temat badań spektrometrami XRF środowiskowych (np. gleb)
Broszura na temat badań spektrometrami XRF produktów użytkowych i elektroniki pod kątem zgodności z dyrektywą RoHS i WEEE
Broszura na temat badań spektrometrami XRF w przemyśle górniczym
   

Do poprawnego odczytania plików w formacie PDF niezbędny jest program Adobe Acrobat Reader, który można pobrać bezpłatnie ze strony producenta.