Czy próbki do analiz XRF wymagają odpowiedniego przygotowania?

Czy próbki do analiz XRF wymagają odpowiedniego przygotowania?

Tutaj jesteś:

Analiza XRF składu chemicznego jest analizą powierzchniową. Głębokość penetracji próbki zależy od gęstości próbki. Im większa gęstość próbki tym mniejsza grubość warstwy penetrowanej przez promieniowanie rentgenowskie. W przypadku analizy stopów metali grubość warstwy analizowanej wynosi od kilkudziesięciu (np. stopy złota, ołowiu) do kilkuset mikrometrów (stopy aluminium). W większości stopy metali ulegają utlenianiu co powoduje zmianę ich składu chemicznego w warstwie wierzchniej. Jeżeli chcemy uniknąć błędu analizy wynikającego z utlenianiu stopów metali powinien on być przeszlifowany powierzchniowo aż do czystej od śladów utlenienia powierzchni. Tak samo sytuacja wygląda w przypadku nanoszonych warstw wierzchnich np. malarskich, lakierniczych, dyfuzyjnych etc., wszystkie powinny być usunięta przed wykonaniem analizy. W przypadku analiz pod kątem zawartości siarki próbki należy odtłuścić. W przypadku recyklingu typowych stopów metali nie praktykuje się przygotowania powierzchni ze względu na ilość wykonywanych pomiarów.

Nieco inaczej sytuacja wygląda w przypadku próbek np. środowiskowych lub katalizatorów samochodowych. Próbki tego rodzaju charakteryzują się niejednorodnością co prowadzi do uzyskania różnych wyników w różnych punktach próbek. Aby zbliżyć się do wyników rzeczywistych tego typy próbki należy ujednorodnić (np. zmielić) w innym wypadku tego typu analizy mogą mieć jedynie charakter przesiewowy.

    Etiam magna arcu, ullamcorper ut pulvinar et, ornare sit amet ligula. Aliquam vitae bibendum lorem. Cras id dui lectus. Pellentesque nec felis tristique urna lacinia sollicitudin ac ac ex. Maecenas mattis faucibus condimentum. Curabitur imperdiet felis at est posuere bibendum. Sed quis nulla tellus.

    ADDRESS

    63739 street lorem ipsum City, Country

    PHONE

    +12 (0) 345 678 9

    EMAIL

    info@company.com