Czy próbki do analiz XRF wymagają odpowiedniego przygotowania?

Przeszukaj dokumentację

Czy próbki do analiz XRF wymagają odpowiedniego przygotowania?

Tutaj jesteś:

Analiza XRF składu chemicznego jest analizą powierzchniową. Głębokość penetracji próbki zależy od gęstości próbki. Im większa gęstość próbki tym mniejsza grubość warstwy penetrowanej przez promieniowanie rentgenowskie. W przypadku analizy stopów metali grubość warstwy analizowanej wynosi od kilkudziesięciu (np. stopy złota, ołowiu) do kilkuset mikrometrów (stopy aluminium). W większości stopy metali ulegają utlenianiu co powoduje zmianę ich składu chemicznego w warstwie wierzchniej. Jeżeli chcemy uniknąć błędu analizy wynikającego z utlenianiu stopów metali powinien on być przeszlifowany powierzchniowo aż do czystej od śladów utlenienia powierzchni. Tak samo sytuacja wygląda w przypadku nanoszonych warstw wierzchnich np. malarskich, lakierniczych, dyfuzyjnych etc., wszystkie powinny być usunięta przed wykonaniem analizy. W przypadku analiz pod kątem zawartości siarki próbki należy odtłuścić. W przypadku recyklingu typowych stopów metali nie praktykuje się przygotowania powierzchni ze względu na ilość wykonywanych pomiarów.

Nieco inaczej sytuacja wygląda w przypadku próbek np. środowiskowych lub katalizatorów samochodowych. Próbki tego rodzaju charakteryzują się niejednorodnością co prowadzi do uzyskania różnych wyników w różnych punktach próbek. Aby zbliżyć się do wyników rzeczywistych tego typy próbki należy ujednorodnić (np. zmielić) w innym wypadku tego typu analizy mogą mieć jedynie charakter przesiewowy.