Spektrometria rentgenowska XRF – podstawy teoretyczne

Przeszukaj dokumentację

Spektrometria rentgenowska XRF – podstawy teoretyczne

Tutaj jesteś:

Wybijanie elektronów i emisja pierwotnego i wtórnego promieniowania rentgenowskiego

Spektrometria XRF służy do identyfikacji pierwiastków w danej substancji i określenia ich ilości. Pierwiastki są wykrywane na podstawie charakterystycznej długości fali (X) lub energii (E) emisji promieniowania rentgenowskiego. Stężenie danego pierwiastka określane jest za pomocą pomiaru intensywności linii jego charakterystyki. Spektrometria XRF pozwala ostatecznie określić skład pierwiastkowy substancji.

Każdy atom posiada ustaloną liczbę elektronów (cząstek naładowanych ujemnie) rozmieszczonych na orbitalach wokół jądra. Liczba elektronów w danym atomie jest równa liczbie protonów (cząstek naładowanych dodatnio) w jądrze a liczba protonów jest równa liczbie atomowej podanej w układzie okresowym pierwiastków. Do każdej liczby atomowej przypisana jest nazwa pierwiastka, np żelazo (Fe) z liczbą atomową 26. Spektroskopia z wykorzystaniem energii rozproszonej (ED) XRF oraz spektroskopia z wykorzystaniem rozproszonej długości fali (WD) XRF wykorzystują oddziaływania na orbitalu K, L oraz M, gdzie K jest poziomem energetycznym najbliższym jądru. Każdy orbital elektronowy odpowiada określonemu i różnemu dla każdego pierwiastka poziomowi energii.

Musisz się zalogować, aby przeczytać resztę tego artykułu. Zaloguj się lub zarejestruj jako użytkownik.