Pomiar grubości warstwy oparty o technikę fluorescencji rentgenowskiej (XRF), to szeroko akceptowana i uznana technika analityczna w przemyśle. Umożliwia ona szybką i nieniszczącą analizę ze zredukowaną do minim, a nawet całkowicie pomijaną preparatyką przygotowawczą próbek. Umożliwia analizę próbek o różnych stanach skupienia takich jak ciała stałe czy płyny w zakresie od Al (13) do U (92) w układzie okresowym pierwiastków.
Dzięki wysokiej precyzji detektorom SDD, MAXXI 6 to idealne urządzenie do badania najcieńszych warstw i składu elementów w śladowych ilościach.
Intuicyjne oprogramowanie oparte jest na popularnym systemie operacyjnym z rodziny Windows. Szereg cech kalibracyjnych, takich jak kalibracja empiryczna, model FP lub kalibracja ze wstępnym obciążeniem dla RoHS i metali szlachetnych, zdecydowanie ułatwia analizę. Także komponenty sprzętowe wpływają na łatwość obsługi urządzenia: standardowy PC lub notebook mogą być podłączone do MAXXI 6 przez USB bez dodatkowego sprzętu lub oprogramowania układowego. Wyjątkowo duża szczelinowa komora probiercza o wymiarach wewnętrznych 500 x 450 x 170 mm, jest odpowiednia dla różnych próbek o standardowej i niestandardowej wielkości. Programowalny etap pozwala na zautomatyzowany pomiar i maksymalizuje zakres ruchu półki i prędkość.
Podzespoły elektryczne i elektroniczne
Najwyższa wydajność gwarantująca lepszą kontrolę procesu
Au |
Pd |
Ni |
Cu |
Górna warstwa: Grubość powłoki Au (złoto)
Druga warstwa: Grubość powłoki Pd (pallad)
Trzecia warstwa: Grubość powłoki Ni (nikiel)
Czwarta warstwa: Podłoże
Ograniczenie kosztów procesu powlekania galwanicznego i zwiększenie wydajności produkcyjnej
Analiza i identyfikacja
Identyfikacja i oznaczenie składu stopów metali
Szybka analiza nieniszcząca biżuterii i innych stopów