Metalografia i materiałografia. Badania twardości. Spektrometry XRF i LIBS.

Nowoczesne spektrometry XRF

Spektrometry nowej generacji cechują się specyficzną konfiguracją zapewniającą najprecyzyjniejsze analizy pod kątem zastosowania. W przypadku analizy składu chemicznego stopów metali spektrometry nowej generacji są wyposażone w lampy XRF o napięciu 50 kV z anodą rodową oraz wielkopowierzchniowy detektor SDD. Tak dobrany układ podzespołów z odpowiednio dobranym układem geometrycznym pozwala na wykorzystanie krótkich czasów analiz i najprecyzyjniejsze analizy również pierwiastków śladowych jak i lekkich (Al, Mg, Si, P, S). Optymalizacja sprzętowa i programowa najnowszych rozwiązań pozwala na pracę 12 godzinną na jednej baterii. Uwzględniając ciężkie warunki pracy w przypadku recyklingu metali spektrometry nowej generacji powinny również cechować się odpowiednią pyłoszczelnością jak i wodoszczelnością (klasa IP 54).

 

Masz pytania?

contact icon shadowSkontaktuj się z nami a postaramy się udzielić Ci wyczerpującej odpowiedzi na temat naszej oferty i możliwych rozwiązaniach.

tel.: +48 (22) 353 99 26
fax: +48 (22) 353 99 27
e-mail: Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.

Certyfikat rzetelności

Certyfikat rzetelności. Rzetelna firma. Firma godna zaufania.

Newsletter

Bądź na bieżąco i zarejestruj się aby otrzymywać e-mailem nasz bezpłatny newsletter z nowościami, promocjami i aktualnościami.
Adres e-mail (*)
Nieprawidłowe dane
Imię i nazwisko (*)
Nieprawidłowe dane
Nazwa firmy / instytucji (*)
Nieprawidłowe dane
   
Obszar zainteresowań (*)


Nieprawidłowe dane
Przepisz kod(*) Przepisz kod
Nieprawidłowe dane