Jaki papier ścierny użyć do szlifowania póbek do analizy XRF?

W odróżnieniu od przygotowania próbek do analizy emisyjnej, próbki do analizy XRF nie muszą być szlifowane w celu wykonania analizy, jeżeli ich powierzchnia nie jest utleniona lub pokryta warstwą wierzchnią. W przypadku utlenienia należy użyć papieru ściernego, który nie wprowadzi dodatkowych pierwiastków mogących wpłynąć na ocenę przydatności stopu. Np. do stopów aluminium lepiej użyć papier cyrkonowy aby nie wprowadzić dodatkowej zawartości krzemu z papierów SiC. Gradację należy dobrać pod kątem własnych wymogów w zakresie od #120 do #1200.

 

Masz pytania?

contact icon shadowSkontaktuj się z nami a postaramy się udzielić Ci wyczerpującej odpowiedzi na temat naszej oferty i możliwych rozwiązaniach.

tel.: +48 (22) 353 99 26
fax: +48 (22) 353 99 27
e-mail: Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.

Certyfikat rzetelności

Certyfikat rzetelności. Rzetelna firma. Firma godna zaufania.

Newsletter

Bądź na bieżąco i zarejestruj się aby otrzymywać e-mailem nasz bezpłatny newsletter z nowościami, promocjami i aktualnościami.
Adres e-mail (*)
Nieprawidłowe dane
Imię i nazwisko (*)
Nieprawidłowe dane
Nazwa firmy / instytucji (*)
Nieprawidłowe dane
   
Obszar zainteresowań (*)


Nieprawidłowe dane
Przepisz kod(*) Przepisz kod
Nieprawidłowe dane