Wojciech Kopańczyk
e-mail: w.kopanczyk@metalogis.com
tel.: +48 664 423 487
Dzięki naszym ciągłym programom badania opinii klientów i rozwoju produktu, w okresie krótszym niż rok od prezentacji spektrometru XRF X-MET 8000 Expert, chcielibyśmy przedstawić wam resztę serii spektrometrów X-MET 8000. Wraz X-MET 8000 Expert, nowe modele X-MET 8000 Optimum oraz X-MET 8000 Smart umożliwiają niezawodną i nieprzerwaną analizę metali przez cały dzień w najtrudniejszych warunkach.
Spektrometry z serii X-MET 8000 są idealnym rozwiązaniem do recyklingu metali, analizy metali szlachetnych, biżuterii oraz analizy i pozytywnej identyfikacji materiałów (PMI) dla zastosowań kontrolnych a także produkcyjnych.
Panel sterowania spektrometru w języku polskim.
Zastosowanie:
Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy stopów metali pod kątem ich recyklingu. Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) są powszechnie stosowane na złomowiskach ponieważ oferują szybką identyfikacje oraz analizę składu chemicznego.
Podręczny spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 charakteryzują:
Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy biżuterii oraz metali szlachetnych. Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) są powszechnie stosowane do badań biżuterii oraz metali szlachetnych ponieważ jest to metoda nieinwazyjna, pozwalająca na szybką i prostą analizę składu zarówno dużych jak i małych przedmiotów wykonanych z metali szlachetnych.
Podręczny spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 Precious Metals oferuje:
Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy stopów metali pod kątem PMI (Positive Materials Identification). Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) pozwalają operatorom oraz konserwatorom na analizy kluczowych elementów procesu przed i po ich eksploatacji, więc nie muszą polegać tylko na certyfikatach dostarczonych przez producenta. Takie podejście może potencjalnie uratować życie poprzez zmniejszenie ryzyka awarii krytycznych komponentów.
Podręczne spektrometry XRF X-MET 8000 są używane w programach PMI i oferują:
Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy pod kątem kontroli jakości procesów produkcji. Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) są często narzędziem z wyboru do kontroli jakość ponieważ są łatwe w użytkowaniu i oferują natychmiastowe wyniki analiz nieniszczących.
Podręczne spektrometry XRF X-MET 8000 są wykorzystywane w procesie kontroli jakości i oferują:
![]() X-MET8000 Smart | ![]() X-MET8000 Optimum | ![]() X-MET8000 Expert |
|
---|---|---|---|
Doskonały wybór do szybkiej analizy oraz sortowania głównych metali | Zoptymalizowany pod kątem szybkości analizy oraz sortowania stopów od aluminiuim poprzez brązy do stali nierdzewnych itd | Najbardziej zaawansowany, zapewniający najwyższą wydajność analiz najróżniejszych stopów, zwłaszcza pieriwastków lekkich (Mg, Al, Si, P i S), śladowych oraz zanieczyszczeń | |
Lampa XRF | 40kV | 50kV w celu poprawy analizy pieriwastków ciężkich (np. Sn, Ag, Cd) | 50kV w celu poprawy analizy pieriwastków ciężkich (np. Sn, Ag, Cd) |
Filtry lampy XRF | Jednopozycyjny | Wielopozycyjny w celu optymalizacji analizy wszystkich pieriwastków od Mg do U | Wielopozycyjny w celu optymalizacji analizy wszystkich pieriwastków od Mg do U |
Wielko-powierzchniowy detektor SDD | ✔ | ✔ | ✔ |
Zakres pierwiastków | Ti - U | Mg - U | Mg - U |
Max. temperatura próbki | 400 ° C | 100 °C | 100 °C |
Szczelność IP54 | ✔ | ✔ | ✔ |
Ochrona detektora przed zniszczeniem | Grube okienko kaptonowe | Opcjonalne osłona okienka | Opcjonalna osłonka okienka |
Kalibracje | Stanardowe | Standardowe (zawierające analizę pieriwastków lekkich) | Standardowe +automatyczny wybór kalibracji empirycznych |
Bluetooth | Opcja | ✔ | ✔ |
Wi-Fi | Opcja | ✔ | ✔ |
Zintegrowanan kamera | Opcja | Opcja | Opcja |
Generator raportów | ✔ | ✔ | ✔ |
X-MET8000 Smart | X-MET8000 Optimum | X-MET8000 Expert | |
---|---|---|---|
Alloy FP LEBadanie składu chemicznego i identyfikowanie stopów metali (Mg-U) | x | ✔ | ✔ |
Alloy Mode LE Empiryczna kalibracja do badania składu chemicznego stopów metali z poprawioną dokładnością (Mg-U) | x | x | ✔ |
Alloy FPBadanie składu chemicznego i identyfikowanie stopów metali ciężkich (Ti-U) | ✔ | ✔ | ✔ |
Al FPIdentyfikowanie stopów Aluminium na podstawie zawartości metali ciężkich bez separacji metali lekkich | ✔ | x | x |
Precious FPBadanie składu chemicznego stopów metali szlachetnych – kalibracja | ✔ | ✔ | ✔ |
FACEmpiryczna kalibracja do analizy efektów korozji przepływowej (niskie zawartości Cr, Ni, Mo, Mn) | x | x | ✔ |
Car Catalyst Empiryczna kalibracja do analizy zawartości pierwiastków metali szlachetnych (Pt, Pd, Rh) w ceramicznych katalizatorach samochodowych | x | ✔ | ✔ |
Metal FP (RoHS)Kalibracja dedykowana do analizy zawartości pierwiastków metali szkodliwych w stopach metali | x | ✔ | ✔ |
Plastic FP (RoHS)Kalibracja dedykowana do analizy zawartości pierwiastków metali szkodliwych w polimerach | x | ✔ | ✔ |
Empirical SolderSpecjalna kalibracja empiryczna do analizy połączeń lutowanych bezołowiowych | x | x | ✔ |
Pb In PaintBadanie zawartości ołowiu w farbach | ✔ | x | ✔ |
Wood FPSpecjalna kalibracja do analizy zawartości Cu, Cr i As w drewnie | x | ✔ | ✔ |
Empirical Customer CalibrationKalibracja umożliwiająca przygotowanie kalibracji pod kątem aplikacji klienta | x | ✔ | ✔ |
Expert GeoKalibracja do próbek środowiskowych pod kątem zawartości metali ciężkich | x | x | ✔ |
Expert ConsumerKalibracja do produktów konsumenckich pod kątem zgodności z dyrektywą RoHS | x | x | ✔ |
Kompaktowa, wytrzymała i wodoodporna walizka do bezpiecznego przechowywania oraz transportu spektrometru XRF X-MET 8000 oraz akcesoriów zestawu.
Gdy wymagana jest powtarzalność pozycjonowania lub dłuższe czasy pomiarów w celu uzyskania najlepszej dokładności i precyzji (np. analiza malych detali, komponentów elektronicznych, proszków itd.) można przekonwertować spektrometr X-MET 8000 na spektrometr stacjonarny z dużą komorą analityczną wciągu kilku sekund z wykorzystaniem stacjonarnego stelaża.
Stelaż wyposażony jest w blokadę bezpieczeństwa, świetlny sygnał bezpieczeństwa ostrzegający o promieniowaniu rentgenowskim (XRF) “X-ray on” w celu zachowania bezkompromisowego bezpieczeństwa radiacyjnego oraz zgodności z lokalnymi przepisami.
Stelaż jest zasilany ze spektrometru a dzięki składanym nogom można przewozić go w dowolne miejsce.
Dwuczęściowy, mały stelaż z osłoną bezpieczeństwa do bezpiecznej analizy małych próbek (np. łączników, próbek proszkowy w pojemniczkach).
Prosta w montażu, dopasowana lekka osłona antyradiacyjna, minimalizująca rozpraszanie promieni rentgenowskich (XRF).
Płyta minimalizująca rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego (XRF) podczas analizy próbek cienkich, małych, o niskiej gęstości. Poprawia dokładność wyników poprzez zatrzymanie przechodzenia promieniowania przez próbkę.
Kabura bezpieczeństwa, uwalniająca ręce, gdy nie wykonywane są pomiary próbek. Sprawia, że przemieszczanie się z X-MET 8000 jest łatwe, a urządzenie jest łatwo dostępne.
Pozwala na bezpieczne użytkowanie urządzenia oraz uwalnia ręce podczas transportu.
Przenośna, zasilana baterią, komunikująca się poprzez bluetooth drukarka do wydruku wyników na papierze lub naklejkach w celu uniknięcia pomyłek i powtarzania testów.
Pozwala szybko zdefiniować nazwę i/lub dodatkowe informację w celu ochrony przez typowymi błędami (np. literówki) oraz oszczędności czasu.
Więcej informacji na temat spektrometru rentgenowskiego XRF X-MET8000 Expert znajdziesz na stronie producenta.