X-MET8000 Smart – Spektrometr rentgenowski XRF

Podręczny spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000  firmy HITACHI HIGH-TECH, zapewnia szybkość i wydajność wymaganą nawet w najbardziej zaawansowanych aplikacjach, za pomocą optymalnego połączenia wysokiej klasy lampy rentgenowskiej i wielkopowierzchniowego detektora SDD (ang.: Large Area Silicon Drift Detector). Dedykowany przede wszystkim do pracy w branży recyklingu metali (analiza i identyfikacja złomu). Świetnie sprawdzi się w codziennej pracy na złomowisku, dzięki swojej poręczności, niewielkim rozmiarom i dużej wytrzymałości na warunki zewnętrzne.

Dzięki naszym ciągłym programom badania opinii klientów i rozwoju produktu, w okresie krótszym niż rok od prezentacji spektrometru XRF X-MET 8000 Expert, chcielibyśmy przedstawić wam resztę serii spektrometrów X-MET 8000.  Wraz X-MET 8000 Expert, nowe modele X-MET 8000 Optimum oraz X-MET  8000 Smart umożliwiają niezawodną i nieprzerwaną analizę metali przez cały dzień w najtrudniejszych warunkach.

Spektrometry z serii X-MET 8000 są idealnym rozwiązaniem do recyklingu metali, analizy metali szlachetnych, biżuterii oraz analizy i pozytywnej identyfikacji materiałów (PMI) dla zastosowań kontrolnych a także produkcyjnych.

Panel sterowania spektrometru w języku polskim.

Zastosowanie:

  • segregacja stopów metali na złomowiskach
  • badanie metali szlachetnych (złoto, platyna, pallad, rod)
  • Spektrometry rentgenowski XRF z serii X-MET 8000 to 3 modele, które zaspokajają wszystkie potrzeby pod kątem analiz oraz budżetów
  • Sprawdzona prostota „wybierz punkt i strzel”
  • Intuicyjny, graficzny interfejs użytkownika: wymagający minimalnego przeszkolenia operatora
  • Duży 4.3″, kolorowy dotykowy wyświetlacz zapewniający doskonałą widoczność wyników, nawet w pełnym słońcu, łatwa obsługa nawet w rękawiczkach
  • Szczelność IP54 (odpowiednik NEMA 3), dzięki czemu spektrometry X-MET mogą być używane w najtrudniejszych warunkach
  • Opcjonalna osłona (w modelach Expert oraz Optimum) zapewniająca ochronę lampy XRF oraz detektora i chroniąca przed kosztownymi naprawami
  • Szybka wymiana okienka ochronnego: wymiana nie wymagana narzędzi w przypadku jego uszkodzenia lub zabrudzenia
  • Konfigurowalny ekran wyników do podejmowania szybkich decyzji: wyświetlanie ważnych informacji tj. gatunek stopu, skład chemiczny, pozytywna lub negatywna identyfikacja, wyświetlenie pierwiastków w wybranej kolejności
  • Kompaktowa i zbalansowana konstrukcja
  • Opcjonalna zintegrowana kamera do dokładnego pozycjonowania pomiaru
  • Obszerne, konfigurowane biblioteki stopów
  • Wydajne zarządzanie danymi
Recykling Metali i Sortowanie – X-MET8000

Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy stopów metali pod kątem ich recyklingu. Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) są powszechnie stosowane na złomowiskach ponieważ oferują szybką identyfikacje oraz analizę składu chemicznego.

Podręczny spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 charakteryzują:

  • Najprecyzyjniejsza i najszybsza analiza pierwiastków lekkich (od Mg do S) w większość komercyjnych stopach metali, włączając stopy aluminium, tytanu, brązy oraz stopy wysokotemperaturowe itd.
  • Niskie poziomy wykrywalności, dokładna klasyfikacja gatunków i oznaczenia zanieczyszczeń
  • Szybka i precyzyjna analiza metali przy bardzo szybkim sortowaniu
  • Optymalna wydajność: lekka (1.5kg), mała i ergonomiczna konstrukcja, z czasem pracy na jednej baterii do 10-12 godzin
  • Szybki Start: uruchomienie i gotowość do pracy w kilka sekund
  • Automatyczna kompensacja analizy pod kątem rozmiarów i kształtu kabli, przewodów o średnicy powyżej 1 mm, opiłków, wiórów itd.
Metale Szlachetne i Wyroby Jubilerskie – X-MET8000

Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy biżuterii oraz metali szlachetnych. Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) są powszechnie stosowane do badań biżuterii oraz metali szlachetnych ponieważ jest to metoda nieinwazyjna, pozwalająca na szybką i prostą analizę składu zarówno dużych jak i małych przedmiotów wykonanych z metali szlachetnych.

Podręczny spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 Precious Metals oferuje:

  • Nieniszczącą – Niepozostawiąjącą śladów na próbce, bezstratną materiałowo – Z zachowaniem pełnej wartości badanego elementu analizę
  • Szybką i dokładną – Wysokowydajną analizę, maksymalizującą wydajność i rentowność
  • Niskie poziomy wykrywalności – Analiza zanieczyszczeń i pierwiastków toksycznych(tj. Pb i Cd) w celu identyfikacji potencjalnie niebezpiecznych elementów
  • Całkowitą mobilność – Kompaktowy i lekki (1.5kg z baterią), X-MET 8000 może być transportowany i używane gdziekolwiek o każdej porze. Wszystkie akcesoria mieszczą się w małej, wytrzymałej walizce do transportu
  • Odporność: IP54 doskonała ochrona przed pyłem i wodą; grube kaptonowe okienko (model X-MET 8000 Smart) lub opcjonalną osłonę (modele Optimum i Expert) do ochrony detektora oraz lampy rentgenowskiej przed uszkodzeniem podczas analizy małych ostrych przedmiotów
Analiza PMI – X-MET 8000

Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy stopów metali pod kątem PMI (Positive Materials Identification). Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) pozwalają operatorom oraz konserwatorom na analizy kluczowych elementów procesu przed i po ich eksploatacji, więc nie muszą polegać tylko na certyfikatach dostarczonych przez producenta. Takie podejście może potencjalnie uratować życie poprzez zmniejszenie ryzyka awarii krytycznych komponentów.

Podręczne spektrometry XRF X-MET 8000 są używane w programach PMI i oferują:

  • Szybką analizę stopu na miejscu
  • Najprecyzyjniejszą analizę pierwiastków lekkich (od Mg do S) do ścisłej kontroli komponentów i systemów
  • Niskie poziomy wykrywalności do precyzyjnej analizy pierwiastków śladowych oraz zanieczyszczeń
  • Szybką analizę i dokładną identyfikację gatunku w oparciu o najobszerniejszą bibliotekę gatunków
  • Optymalna wydajność: lekka (1.5kg), mała, ergonomiczna konstrukcja, z czasem pracy na jednej baterii do 10-12 godzin
  • Szybki Start: uruchomienie i gotowość do pracy w kilka sekund
  • Optymalna konstrukcja nosa do analizy materiałów na łukach oraz narożnikach (np. spoin)
Analiza PMI dla Prordukcji – X-MET8000

Spektrometr rentgenowski XRF X-MET 8000 jest idealny do analizy pod kątem kontroli jakości procesów produkcji. Podręczne analizatory fluorescencji rentgenowskiej (XRF) są często narzędziem z wyboru do kontroli jakość ponieważ są łatwe w użytkowaniu i oferują natychmiastowe wyniki analiz nieniszczących.

Podręczne spektrometry XRF X-MET 8000 są wykorzystywane w procesie kontroli jakości i oferują:

  • Najprecyzyjniejsza i najszybsza analiza pierwiastków lekkich (od Mg do S) w większość komercyjnych stopach metali, włączając stopy aluminium, tytanu, brązy itd.
  • Niskie poziomy wykrywalności, dla dokładnej separacji stopów (np.. 303-304, 6061-6063)
  • Szybką analizę i dokładną identyfikację gatunku: uzyskanie w kilka sekund wyników na poziomie laboratoryjnych oraz redukcję kosztów i czasu
  • Optymalna wydajność: lekka (1.5kg), mała, ergonomiczna konstrukcja, z czasem pracy na jednej baterii do 10-12 godzin
  • Szybki Start: uruchomienie i gotowość do pracy w kilka sekund
  • Automatyczna kompensacja rozmiaru i kształtu rur, prętów, drutów o średnicy powyżej 1 mm, spoin, elementów złącznych, wiórów itd.
 

X-MET8000 Smart


X-MET8000 Optimum


X-MET8000 Expert
Doskonały wybór do szybkiej analizy oraz sortowania głównych metaliZoptymalizowany pod kątem szybkości analizy oraz sortowania stopów od aluminiuim poprzez brązy do stali nierdzewnych itdNajbardziej zaawansowany, zapewniający najwyższą wydajność  analiz najróżniejszych stopów, zwłaszcza pieriwastków lekkich (Mg, Al, Si, P i S), śladowych oraz zanieczyszczeń 
Lampa XRF40kV50kV
w celu poprawy analizy pieriwastków ciężkich (np. Sn, Ag, Cd)
50kV
w celu poprawy analizy pieriwastków ciężkich (np. Sn, Ag, Cd)
Filtry lampy XRFJednopozycyjnyWielopozycyjny w celu optymalizacji analizy wszystkich pieriwastków od Mg do UWielopozycyjny w celu optymalizacji analizy wszystkich pieriwastków od Mg do U
Wielko-powierzchniowy detektor SDD
Zakres pierwiastkówTi - UMg - UMg - U
Max. temperatura próbki400 ° C100 °C100 °C
Szczelność IP54
Ochrona detektora przed zniszczeniemGrube okienko kaptonoweOpcjonalne osłona okienkaOpcjonalna osłonka okienka
KalibracjeStanardoweStandardowe (zawierające analizę pieriwastków lekkich)Standardowe +automatyczny wybór kalibracji empirycznych
BluetoothOpcja
Wi-FiOpcja
Zintegrowanan kameraOpcjaOpcjaOpcja
Generator raportów

Zastosowanie

 X-MET8000 SmartX-MET8000 OptimumX-MET8000 Expert
Alloy FP LE
Badanie składu chemicznego i identyfikowanie stopów metali (Mg-U)
x ✔
Alloy Mode LE
Empiryczna kalibracja do badania składu chemicznego stopów metali z poprawioną dokładnością (Mg-U)
 x x✔ 
Alloy FP
Badanie składu chemicznego i identyfikowanie stopów metali ciężkich (Ti-U)
 ✔ ✔ ✔
Al FP
Identyfikowanie stopów Aluminium na podstawie zawartości metali ciężkich bez separacji metali lekkich
 ✔xx
Precious FP
Badanie składu chemicznego stopów metali szlachetnych – kalibracja
 ✔ ✔ ✔
FAC
Empiryczna kalibracja do analizy efektów korozji przepływowej (niskie zawartości Cr, Ni, Mo, Mn)
 x x✔ 
Car Catalyst
Empiryczna kalibracja do analizy zawartości pierwiastków metali szlachetnych (Pt, Pd, Rh) w ceramicznych katalizatorach samochodowych
 x
Metal FP (RoHS)
Kalibracja dedykowana do analizy zawartości pierwiastków metali szkodliwych w stopach metali
 x ✔ ✔
Plastic FP (RoHS)
Kalibracja dedykowana do analizy zawartości pierwiastków metali szkodliwych w polimerach
x
Empirical Solder
Specjalna kalibracja empiryczna do analizy połączeń lutowanych bezołowiowych
xx
Pb In Paint
Badanie zawartości ołowiu w farbach
x
Wood FP
Specjalna kalibracja do analizy zawartości Cu, Cr i As w drewnie
x
Empirical Customer Calibration
Kalibracja umożliwiająca przygotowanie kalibracji pod kątem aplikacji klienta
x
Expert Geo
Kalibracja do próbek środowiskowych pod kątem zawartości metali ciężkich
xx
Expert Consumer
Kalibracja do produktów konsumenckich pod kątem zgodności z dyrektywą RoHS
xx

WALIZKA DO TRANSPORTU (wyposażenie standardowe)

Kompaktowa, wytrzymała i wodoodporna walizka do bezpiecznego przechowywania oraz transportu spektrometru XRF X-MET 8000 oraz akcesoriów zestawu.

STELAŻ

Gdy wymagana jest powtarzalność pozycjonowania lub dłuższe czasy pomiarów w celu uzyskania najlepszej dokładności i precyzji (np. analiza malych detali, komponentów elektronicznych, proszków itd.) można przekonwertować spektrometr X-MET 8000 na spektrometr stacjonarny z dużą komorą analityczną wciągu kilku sekund z wykorzystaniem stacjonarnego stelaża.

Stelaż wyposażony jest w blokadę bezpieczeństwa, świetlny sygnał bezpieczeństwa ostrzegający o promieniowaniu rentgenowskim (XRF) „X-ray on” w celu zachowania bezkompromisowego bezpieczeństwa radiacyjnego oraz zgodności z lokalnymi przepisami.

Stelaż jest zasilany ze spektrometru a dzięki składanym nogom można przewozić go w dowolne miejsce.

LEKKI STELAŻ ORAZ OSŁONA BEZPIECZEŃSTWA

Dwuczęściowy, mały stelaż z osłoną bezpieczeństwa do bezpiecznej analizy małych próbek (np. łączników, próbek proszkowy w pojemniczkach).

LEKKA OSŁONA ANTYRADIACYJNA

Prosta w montażu, dopasowana lekka osłona antyradiacyjna, minimalizująca rozpraszanie promieni rentgenowskich (XRF).

PŁYTKA ZAPEWNIAJĄCA NEUTRALNE TŁO

Płyta minimalizująca rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego (XRF) podczas analizy próbek cienkich, małych, o niskiej gęstości. Poprawia dokładność wyników poprzez zatrzymanie przechodzenia promieniowania przez próbkę.

KABURA

Kabura bezpieczeństwa, uwalniająca ręce, gdy nie wykonywane są pomiary próbek. Sprawia, że przemieszczanie się z X-MET 8000 jest łatwe, a urządzenie jest łatwo dostępne.

SMYCZ, RĘKAWICE I OPASKI

Pozwala na bezpieczne użytkowanie urządzenia oraz uwalnia ręce podczas transportu.

BEZPRZEWODOWA DRUKARKA BLUETOOTH

Przenośna, zasilana baterią, komunikująca się poprzez bluetooth drukarka do wydruku wyników na papierze lub naklejkach w celu uniknięcia pomyłek i powtarzania testów.

SKANER KODÓW KRESKOWYCH BLUETOOTH

Pozwala szybko zdefiniować nazwę i/lub dodatkowe informację w celu ochrony przez typowymi błędami (np. literówki) oraz oszczędności czasu.

Wyślij zapytanie

Prosimy o wypełnienie pól formularza. Pola oznaczone gwiazdką (*) są obowiązkowe, aby móc wysłać zapytanie.
CAPTCHA image

Ta funkcja zapobiega rozsyłaniu spamu. Dziękujemy za wyrozumiałość.

Więcej informacji na temat spektrometru rentgenowskiego XRF X-MET8000 Expert znajdziesz na stronie producenta.

    Etiam magna arcu, ullamcorper ut pulvinar et, ornare sit amet ligula. Aliquam vitae bibendum lorem. Cras id dui lectus. Pellentesque nec felis tristique urna lacinia sollicitudin ac ac ex. Maecenas mattis faucibus condimentum. Curabitur imperdiet felis at est posuere bibendum. Sed quis nulla tellus.

    ADDRESS

    63739 street lorem ipsum City, Country

    PHONE

    +12 (0) 345 678 9

    EMAIL

    info@company.com